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薄膜厚度檢測儀
簡要描述:

薄膜厚度檢測儀適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)!

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-03-10
  • 訪  問  量:1201
產(chǎn)品分類PRODUCT

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詳細介紹

品牌SYSTESTER/思克應(yīng)用領(lǐng)域包裝/造紙/印刷

薄膜厚度檢測儀

薄膜厚度檢測儀

薄膜厚度檢測儀

適用于:塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

主要特點

接觸式測量原理

測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式

測試過程全自動完成

內(nèi)嵌zui大值、值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能

本機內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機,可自動打印單次、統(tǒng)計報告

配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口

可支持DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理(選購)

技術(shù)指標(biāo)

測量范圍:02mm(標(biāo)配)010mm(可選)

率:0.1μm

測量速度:1~25/min(可調(diào))

測量 頭:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(標(biāo)配)

紙張:200mm250±1kPa(可選)

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、ISO 4593ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

薄膜厚度檢測儀

產(chǎn)品配置

主機、薄膜測量頭、微型打印機、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

注:產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)!



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